HI4103
固態膜鎘【Cd】ISE離子選擇復合電極
測量范圍:0.1M to 1×10-7M、11200 to 0.01 mg/L(ppm)Cd2+;
適用于水溶液中鎘離子的濃度測量,也可作為指示電極用于鎘離子的EDTA滴定測量;
溫馨提示:電極短期保存可放在稀釋的標準液稀(<10-3M)中保存,長時間不用應拆分電極,沖洗干凈,用密封膜封住陶瓷結點,給傳感器加上保護蓋,干燥保存。
   HI4103 內置參比的復合電極,固態膜由不溶于被測溶液的硫化鎘/硫化銀制成,傳感器和溶液之間的電位隨著測試溶液中的離子濃度變化而改變,在相同的離子強度條件下,電壓與溶液的鎘離子濃度成比例,通過測量電位的變化可以得到鎘離子的濃度。
| HI4103 內置參比的復合電極,固態膜由不溶于被測溶液的硫化鎘/硫化銀制成,傳感器和溶液之間的電位隨著測試溶液中的離子濃度變化而改變,在相同的離子強度條件下,電壓與溶液的鎘離子濃度成比例,通過測量電位的變化可以得到鎘離子的濃度。 | |
| 測量范圍:0.1M to 1×10-7M、11200 to 0.01 mg/L(ppm)Cd2+ | |
| 溫度范圍:0 to 80 °C;最佳pH范圍:2 to 12 pH;近似斜率@25oC:+27mV | |
| 單位轉換【Cd2+】:M(mol/L)=1.124 x 105 mg/L(ppm)、mg/L(ppm)=8.896x 10-6 M(mol/L) | |
| 干擾物:不得存在銀和汞,任何會生成比硫化鎘更難溶的離子會影響測定結果,長時間浸泡在此類溶液中會損壞電極, | |
| 適用范圍:水溶液中鎘離子的濃度測量,也可作為指示電極用于鎘離子的EDTA滴定測量 | |
|  | HI4103-11固態膜鎘【Cd2+】ISA離子標準液綜合套裝 | 
| HI4000-70 定制專用離子電極打磨拋光帶,規格:24個/組 | |
| 鎘【Cd2+】ISE離子選擇復合電極注意事項 | |
| 
 ? 鎘有毒,避免攝入或皮膚接觸,實驗時采取相應的防護措施。 濃度低于10-3M(112ppm)的標液需要每天配置,標液保存在塑料瓶中。 ? 校準溶液和樣品溶液需要在相同的離子強度條件下測量,ISA必須同時以相同體積添加;校準溶液和樣品溶液需要在相同的溫度下測量。     校準溶液和樣品溶液需要在相同的攪拌條件下測量,使用磁力攪拌器時,使用絕熱材料避免攪拌器傳熱。 ? 濃度大于0.10M的樣品需要稀釋后測量,對于高離子強度的樣品可以使用標準加入法或滴定法測量。 測量不同樣品間隙用去離子水清洗電極并吸干水分,避免交叉污染,注意不要擦到電極膜;如果膜發生損壞,應及時更換,否則會影響測量結果。 當電極膜表面在測量過程中被氧化,可放在抗壞血酸等弱還原劑中浸泡幾分鐘。 ? 傳感器表面發生擦傷、凹陷、氧化時會引起讀數的漂移,可以使用HI4000-70對電極表面進行處理。 避免溫度的劇烈變化,否則會損壞電極;溫度變化可能會使電極內部產生氣泡,輕輕拍打電極即可趕走膜表面的氣泡。 ? 使用前撕掉陶瓷結點表面的封口膜,安裝好電極后添加HI7072填充液,測量時將填充口打開。填充液會以緩慢的速度滲出,這是正常的,但是如果滲出速度大于4cm/24h,則需要檢查電極蓋是否擰緊或者電極頭的錐形面有沒有雜物顆粒存在造成縫隙。每天測量前檢查填充液液面,低于填充口2cm以上需要添加填充液。電極內部產生結晶時需要更換新的填充液。 測量數據不穩定時,檢查電極頭錐形面是否有異物,需要時清潔電極內部并更換填充液。 電極斜率不符合要求時,可將電極浸泡在標準液(<10-3M)中一段時間可以改善。 ? 電極短期保存可放在稀釋的標準液稀(<10-3M)中保存,長時間不用應拆分電極,沖洗干凈,用密封膜封住陶瓷結點,給傳感器加上保護蓋,干燥保存。 | |
標準配置:
HI4103
定制專用鎘ISE離子選擇電極,HI7072 專用電極填充液,1 M KNO3,規格:30mL,中英文使用說明書,電極專用攜帶盒【溫馨提示:建議用戶訂購HI4000-70 專用ISE固態膜電極拋光帶,方便電極保養維護,延長電極使用壽命】
HI4103D
定制專用鎘ISE離子選擇電極,HI4103-11鎘離子標準液綜合套裝【含0.1M, ISA離子強度調節液,專用電極填充液】,中英文使用說明書,電極專用攜帶盒【溫馨提示:建議用戶訂購HI4000-70 專用ISE固態膜電極拋光帶,方便電極保養維護,延長電極使用壽命
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13265803631/鴻澤






















 第5年
第5年 通過認證
 通過認證 





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